IPSJ (社)情報処理学会 ソフトウェア工学研究会
パターンワーキンググループ


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第7回 ソフトウェアパターン勉強会

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第7回 勉強会は終了しました。 ご参加、ご協力いただいた皆様、ありがとうございました。

第7回 勉強会 開催報告

日時: 2004 年 8 月 4 日(水) 19:00 - 20:50
会場: 日本アイ・ビー・エム(株)箱崎事業所 1階 AVルーム(ロビー・フロア奥)
主催: 情報処理学会ソフトウェア工学研究会パターンワーキンググループ
参加者: 60 名

詳しい内容は、当日の議事録 をご参照下さい。

プログラム コーディネータ: 太田 健一郎(日本アイ・ビー・エム)
8月4日(水)

パターン解説:

単体テストの観点からみたデザイン・パターン (資料PDF)
発表者: 太田 健一郎(日本アイ・ビー・エム)

   J2EEシステムのような多数のコンポーネントから構成され,複雑化したアプリケーションの品質を保証するためには,単体テストのレベルで欠陥を発見しておくことが重要となります。この単体テストを効果的に実施するためには,設計段階からテスト容易性を考慮する必要があります。

本発表では効果的な単体テストの実施とデザイン・パターンの関係について,Dependency Injection や Mock Object といった具体的なデザイン・パターンをいくつか取り上げながら,以下の問題を考察します。
  • 設計の考慮点としてテスト容易性を考える場合,デザイン・パターンをテストの観点から見てみるのは有用ではないか
  • 本来の意図とは異なるが,結果としてテスト容易性に役立つようなデザイン・パターンが存在するのではないか
本発表を叩き台にして,参加者が単体テストに限らず,広く効果的なテストを実施するために工夫している点(要件定義,分析,設計,構成管理,パターン,ツール)についてディスカッションして頂きたいと思います。

本発表でテストについて更に興味を持った方はぜひテストパターンサブタスクに参加していただけると幸いです。


ライトニングトーク:

欲求−願望−要求モデルとパターン (資料PDF)
発表者: 細谷 竜一(東芝ソリューション)

以前の案内

このたび,第7回勉強会を以下の要綱で開催することになりましたので, ご案内いたします. 今回のテーマは、「単体テストの観点からみたデザイン・パターン」です。 効果的な単体テストの実施とデザイン・パターンの関係について, Dependency Injection や Mock Object といった具体的なデザイン・パターンをいくつか取り上げながら考察します。

事前申込み不要,参加無料です。 是非皆さんの積極的なご参加をお願いします.

日時: 2004 年 8 月 4 日(水) 19:00 - 20:50
会場: 日本アイ・ビー・エム(株)箱崎事業所 1階 AVルーム(ロビー・フロア奥)
主催: 情報処理学会ソフトウェア工学研究会パターンワーキンググループ
参加費: 無料
参加方法: 事前の申し込みは不要です。 19:00 までに直接、会場にお越しください。
照会先: patterns-wg-seminar@fuka.info.waseda.ac.jp