(社)情報処理学会 ソフトウェア工学研究会
パターンワーキンググループ

第7回 ソフトウェアパターン勉強会

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第7回 勉強会は終了しました。 ご参加、ご協力いただいた皆様、ありがとうございました。

第7回 勉強会 開催報告

日時: 2004 年 8 月 4 日(水) 19:00 - 20:50
会場: 日本アイ・ビー・エム（株）箱崎事業所 1階 AVルーム（ロビー・フロア奥）
主催: 情報処理学会ソフトウェア工学研究会パターンワーキンググループ
参加者: 60 名

詳しい内容は、当日の議事録 をご参照下さい。

以前の案内

このたび，第７回勉強会を以下の要綱で開催することになりましたので， ご案内いたします． 今回のテーマは、「単体テストの観点からみたデザイン・パターン」です。 効果的な単体テストの実施とデザイン・パターンの関係について， Dependency Injection や Mock Object といった具体的なデザイン・パターンをいくつか取り上げながら考察します。

事前申込み不要，参加無料です。 是非皆さんの積極的なご参加をお願いします．

日時: 2004 年 8 月 4 日(水) 19:00 - 20:50
会場: 日本アイ・ビー・エム（株）箱崎事業所 1階 AVルーム（ロビー・フロア奥）
主催: 情報処理学会ソフトウェア工学研究会パターンワーキンググループ
参加費: 無料
参加方法: 事前の申し込みは不要です。 19:00 までに直接、会場にお越しください。
照会先: patterns-wg-seminar@fuka.info.waseda.ac.jp